PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
日本Anritsu超輻射發(fā)光二極管SLD光源傳感器 Anritsu/安立 AM8P4005SL45CSLD光源(Super Luminescent Diode:SLED)是一種兼具激光二極管的輸出功率、LED(發(fā)光二極管)的寬光譜寬度和低相干性的光源。由于其發(fā)射的光具有與激光二極管類似的狹窄有源層,因此與光纖具有出色的耦合性,并且具有介于 LD 和 LED 之間的特性。
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日本Anritsu超輻射發(fā)光二極管SLD光源傳感器 Anritsu/安立 AM8P4005SL45C 特點介紹
SLD光源(Super Luminescent Diode:SLED)是一種兼具激光二極管的輸出功率、LED(發(fā)光二極管)的寬光譜寬度和低相干性的光源。
由于其發(fā)射的光具有與激光二極管類似的狹窄有源層,因此與光纖具有出色的耦合性,并且具有介于 LD 和 LED 之間的特性。
OCT是光學相干斷層掃描(Optical Coherence Tomography)的縮寫,它利用光學干涉現(xiàn)象來精確測量物體的表面粗糙度和活體生物體的斷層圖像,
從而實現(xiàn)非破壞性、非接觸性確認的技術(shù)。與X射線相比,X射線的分辨率為0.1至1毫米,而OCT可以達到幾微米的分辨率,并且沒有輻射暴露的風險,因此在醫(yī)療應用中得到廣泛應用。
日本Anritsu超輻射發(fā)光二極管SLD光源傳感器 Anritsu/安立 AM8P4005SL45C 特點介紹
SLD 光源是 OCT 的最佳光源。SLD光源像ASE光源一樣發(fā)出自發(fā)發(fā)射光,因此它們具有較寬的光譜寬度并實現(xiàn)低相干性。寬光譜寬度還可以實現(xiàn)高測量分辨率和特別精確的成像。
工業(yè)OCT
原材料產(chǎn)品缺陷及缺陷的檢驗:鐵板、薄膜等厚度、表面粗糙度的測量。檢查加工過程中是否有毛刺和劃痕
半導體缺陷/缺陷檢查:檢查抗蝕劑薄膜的均勻性、蝕刻波導高度、焊膏和粘合劑高度
醫(yī)學OCT
眼科OCT:眼底橫斷面結(jié)構(gòu)、視網(wǎng)膜檢查、眼軸長度測量
血管內(nèi) OCT:比 IVUS(血管內(nèi)超聲)更高分辨率的斷層掃描
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