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產(chǎn)品展示/ Product display

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日本alnair-labs硅片厚度測量儀光學檢查儀

日本alnair-labs硅片厚度測量儀光學檢查儀 Alnair Labs SIT-200

高靈敏度實時測量硅襯底厚度
用于干涉測量的高速掃描高純度可調(diào)諧光源
波長掃描方法可實現(xiàn)高靈敏度測量

  • 產(chǎn)品型號:SIT-200
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-10-08
  • 訪  問  量:230
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聯(lián)系電話:13823182047

詳細介紹

日本alnair-labs硅片厚度測量儀光學檢查儀 Alnair Labs SIT-200 特點介紹


1、機械損耗低、機械滯后低

2.可制造長行程產(chǎn)品。

3、維護方便

4、結構簡單,不存在常規(guī)產(chǎn)品因卡膠而發(fā)生故障的現(xiàn)象。

   氣缸滑動部位通過小泄漏氣膜進行潤滑,滑動阻力低,磨損極小。

5. 微壓操作

6、壽命長

7、操作油缸部分采用CFRP(增強碳纖維管)制成,重量輕。

8. 抗不平衡負載能力

9. 氣缸桿可承受高負載(直線導軌)

10. 活塞部分使用滾珠襯套與線性導軌集成在一起


日本alnair-labs硅片厚度測量儀光學檢查儀 Alnair Labs SIT-200 規(guī)格參數(shù)


測定対象物

シリコン基板

厚み測定範囲

10~500 (n=3.5のとき)

μm

測定光源

波長可變光源(1515~1585)

nm

光出力バフ一

0.6、クラス1

mW

ガイド用光源

赤色LD、 クラス1M

計測時間

最小20

ms

測定再現(xiàn)性

0.1以下 (3σにおいて)

μm

モ二タ出力

干涉出力信號

PO インタ一フエ一ス

Ethernet

電源電莊

AC 100-240(50/60 Hz)V

外観寸法(WxHxD)

364x 147x391mm

重量

9kg


工作溫度和濕度 20℃~25℃ 50%RH以下

可制造型號 懸臂式單作用,帶雙滾珠襯套

最小驅(qū)動壓力 200pa(低摩擦規(guī)格) φ40用

漏氣量 90L/min以下(0.4Mpa時) φ40×200ST用(低摩擦規(guī)格)

滯后現(xiàn)象 平均0.6N φ40×200ST

位置負載能力 φ40×200ST 3430N(最大動載荷)




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